ESD（二）-- HBM and CDM For 芯片

ESD
HBM and CDM分级
ESD不同标准的测试方法–间隔和测试次数
TLP–测试ESD能力
TLP 技术的核心原理
TLP 应用场景

参考资料

HBM and CDM分级

HBM
HBM无国标，只有国际标准，如下
根据 JESD22-A114 和 JS-001 等国际标准，人体模型（Human Body Model, HBM）的 CLASS 及对应的电压范围如下：

Class 0：器件在 250V 或更低电压下失效。
Class 1A：通过 250V 测试，但在 500V 时失效。
Class 1B：通过 500V 测试，但在 1000V 时失效。
Class 1C：通过 1000V 测试，但在 2000V 时失效。
Class 2：通过 2000V 测试，但在 4000V 时失效。
Class 3A：通过 4000V 测试，但在更高电压下失效，部分标准中未明确上限。
Class 3B：部分标准（如 JS-001）中定义为 8000V，实际应用中较少涉及。
Class 4：部分标准（如 JS-001）中定义为 16000V，实际应用中较少涉及。

CDM
ANSI/ESD STM 5.3-1999 标准：
C1：小于 125V。
C2：125V 至小于 250V。
C3：250V 至小于 500V。
C4：500V 至小于 1000V。
C5：1000V 至小于 1500V。
C6：1500V 至小于 2000V。
C7：大于等于 2000V。
JEDEC/ESDA 标准（ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2014）：
Class C0A：小于 125V。
Class C0B：125V 至小于 250V。
Class C1：250V 至小于 500V。
Class C2：500V 至 1000V。
Class C3：大于等于 1000V。
其他非标准分类：
0A：50V