基于Halcon采用 SVM 的纽扣电池表面缺陷检测

工业质检零样本缺陷检测

手把手用 AD-DINOv3 实现零样本异常检测,工业质检开箱即用

 1.文件夹结构

2. 处理主要思路:

基于SVM先实现分类功能,对应不同缺陷类别完成分类;之后单独对应每一种具体缺陷来做缺陷位置定位。

3.表面缺陷检测源代码:

dev_update_off ()
dev_close_window ()
dev_open_window (0, 0, 400, 300, 'black', WindowHandle)
dev_set_line_width (2)

*创建支持向量机分类器
create_class_svm (10, 'rbf', 0.02, 0.02, 4, 'one-versus-one', 'normalization', 10, SVMHandle)

*确定图像和分类名称一一对应
FileNames:=['无缺陷','凹点','划痕','锈斑污渍']
for Classnumber := 0 to 3 by 1
list_image_files (FileNames[Classnumber], 'default', [], ImageFiles1)
for I := 0 to |ImageFiles1|-1 by 1
*读取图像并筛选出各类特征
read_image (Image, ImageFiles1[I])
binary_threshold (Image, Region1, 'max_separability', 

工业质检零样本缺陷检测

手把手用 AD-DINOv3 实现零样本异常检测,工业质检开箱即用

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