表1.126.1 光学光刻成像基础:瑞利准则与部分相干成像
| 维度 | 详细说明 |
|---|---|
| 编号 | 1.126.1 |
| 核心物理原理/数学描述 | 1. 瑞利分辨率公式:R = k_1 \frac{\lambda}{NA}, 定义了在部分相干照明下, 一个投影光刻系统所能分辨的最小半周期(通常为等间距线条/间隔的宽度)。其中, R为分辨率, \lambda为照明波长, NA为投影物镜的像方数值孔径, k_1为工艺因子。 2. 部分相干成像:光刻成像系统非完全相干也非完全非相干。照明光源的空间相干性由部分相干因子 \sigma(西格玛)描述, 定义为照明光锥角与物镜孔径角之比。\sigma的取值范围为0(完全相干)到1(完全非相干, 对应均匀照明)。 3. 成像过程模型:硅片平面上的光强分布I(x, y)是掩模透射函数M(x, y)、照明光源分布J(f, g)和投影物镜相干传递函数相互作用的结果。可用霍普金斯公式的近似形式表示:I(x, y) \approx \iint TCC(f', g'; f'', g'') \cdot \tilde{M}(f', g') \cdot \tilde{M}^*(f'', g'') \cdot e^{i2\pi[(f'-f'')x+(g'-g'')y]} d |
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