MIPI D-PHY V1.2 CTS（一）

一、说明

        一致性测试套件CTS的目的是提高基于MIPI D-PHY规范产品的互操作性，与其他行业联盟不同，本规范不是合规测试套件，因为MIPI产品不需要认证。

        本测试主要用于评估产品D-PHY物理层功能，通过本测试也不意味着可以和所有MIPI产品兼容，而是提高成功率和应用者的信心。测试内容主要包括三大部分：

• 发射机TX
• 接收机RX
• 阻抗和S参数

二、TX

        TX大概包括6部分内容，分别是Data/Clock的LP-TX，Data/Clock的HS-TX，Data和Clock的时序要求，以及初始化、ULPS等的要求。

2.1 Data LP-TX

        本部分测试示波器均需设置400MHz的4阶巴特沃斯低通滤波器，特别是对压摆率测试影响很大，后续不再赘述，另外DATA LP-TX测试要求使用单端探头对每个lane的DP/DN单独进行测试，测试波形均使用ULPS（超低功耗状态）进入序列（LP11-10-00-01-00）。

2.1.1 VOH

        目的是验证DUT在LP模式下的VOH是否在一致性限值内。

        测试位置理论是在Master器件的焊盘上不带负载进行测试，但考虑各测试项