搞定ESD(二):ESD干扰机理分析

本文深入探讨静电放电(ESD)的干扰机理,包括静电产生的原因和途径,静电放电的危害,如对电子元器件的损害。文章重点分析了静电放电中的电场耦合、磁场耦合,以及地电位波动和天线效应,揭示了静电干扰的复杂性和多样性,为电子产品的ESD防护提供了理论基础。

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大家好,我是记得诚。

上文介绍了ESD的基本知识,对ESD的测试标准进行了解析,包括静电发生器的介绍,实验布置要求,静电放电实验的实施及判定等内容。

本文主要介绍ESD的干扰机理。

一、静电放电产生的原因及途径

1.1 静电产生的原因

物质都是由分子组成,分子是由原子组成,原子中有带负电的电子和带正电荷的质子组成。在正常状况下,一个原子的质子数与电子数量相同,正负平衡,所以对外表现出不带电的现象。但是电子环绕于原子核周围,一经外力即脱离轨道,离开原来的原子A而侵入其他的原子B,A原子因缺少电子而带有正电现象,称为阳离子、B原子因增加电子数而呈带负电现象,称为阴离子。

在这里插入图片描述
造成不平衡电子分布的原因即是电子受外力而脱离轨道,这个外力包含各种能量(如动能、位能、热能、化学能……等)在日常生活中,任何两个不同材质的物体接触后再分离,即可产生静电。

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