SWIR0503AU是阿秒科技推出的短波红外相机，基于Sony IMX991传感器，像元5μm、分辨率33万，支持400fps全幅采集、400–1700nm宽光谱响应、TEC制冷（-5℃）及USB3.0接口。适用于激光光斑检测、工业物料分选、动态过程观测和半导体晶圆检测等高速成像与光谱分析场景。
一、产品介绍
北京阿秒科技有限公司的SWIR0503AU是一款具备超高速成像性能的短波红外相机，采用Sony IMX991传感器，具有33万分辨率，像元尺寸为5μm。相机内置TEC制冷系统提供25°C温差，保证图像稳定性。使用USB3.0接口实现400fps超高帧率，动 态范围59.7dB，支持 8/12bit 输出。适用于激光分析、材料检测、高速分拣等动态应用。
二、核心性能参数
400‑1700nm宽光谱响应，可用于可见光至短波红外范围内的成像与光学测试。
全幅400fps帧率，高速图像采集，捕捉动态变化
‑5℃TEC制冷，降低温度变化，为连续采集和长时间运行提供支持
| 参数项 | 参数规格 |
|---|---|
| 型号 | SWIR0503AU |
| 传感器类型 | Sony IMX991 InGaAs |
| 光谱范围 | 400nm‑1700nm |
| 像元尺寸 | 5.0 μm × 5.0 μm |
| 靶面尺寸 | 1/4" |
| 帧率 & 分辨率 | 8 Bit：400fps@640 x 512、753fps@320 x 256 12 Bit：212fps@640 x 512、400fps@320 x 256 |
| 动态范围 | 59.7dB |
| 读出噪声 | 176.7e⁻ |
| 满井容量 | 173.23ke⁻ |
| 最大信噪比 | 52.39dB |
| 灵敏度 | 121mV / lux·s |
| 暗电流 | 383e⁻/s(0℃)、510e⁻/s(10℃)、638e⁻/s(20℃) |
| 快门模式 | 全局快门 |
| 数据接口 | USB3.0 |
三、SWIR0503A短波红外相机应用案例
SWIR0503AU 的高速图像采集能力与 400–1700 nm 光谱响应范围，使其适用于多种工业视觉和科研成像任务。具体应用效果取决于目标材料的光谱特性、照明方案和系统配置。
1. 激光光斑检测
在激光实验与光学测试中，需要连续采集光斑图像，以观察光斑形态、位置变化及空间分布。SWIR0503AU 支持最高 400 fps 的全分辨率 8 bit 成像，可用于满足一定动态速度要求的激光光斑观测与分析任务。
激光光斑检测
2. 工业物料分选
在自动化分选系统中，短波红外成像可作为可见光视觉的补充，帮助识别部分仅凭外观颜色难以区分的材料。SWIR0503AU 可集成至相应的机器视觉系统，通过采集目标在特定波段下的图像，配合光源、光学滤光配置与图像识别算法，支持物料分类和在线分选应用。
工业物料分选
3. 科研实验与动态过程观测
在光学实验、材料研究及动态过程分析中，研究人员可能需要记录目标在不同光照条件或不同波长下的图像变化。SWIR0503AU 的全局快门、高速采集能力及宽光谱响应，可为需要短波红外图像数据的实验系统提供成像支持。对于高速运动的检测对象，可结合相机的高帧率能力记录目标变化。
动态过程观测
4. 半导体晶圆检测
在半导体制造与质量检测过程中，部分晶圆缺陷、材料差异及特定工艺问题可能需要借助可见光以外的波段进行辅助观察。阿秒科技 SWIR0503AU 短波红外相机可为晶圆检测实验及动态检测系统提供图像采集支持，用于晶圆内部结构观察、材料特性分析及部分缺陷检测研究。
半导体检测
四、SWIR0503AU短波红外相机常见问题
- SWIR0503AU是否适用于高速动态检测？
适用。SWIR0503AU 采用全局快门，支持最高 400 fps 的全分辨率 8 bit 图像采集，可用于激光光斑观测、高速物料分选及动态过程记录等应用。对于高速运动目标，全局快门有助于减少逐行曝光带来的运动形变。
- 如果你正在寻找适用于高速成像、材料识别或科研实验的短波红外相机，欢迎访问SWIR0503A系列短波红外相机详情页，了解更多产品信息。
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